科研方向

1.基于自由能理论研究表面激发效应对低能俄歇电子谱的影响

针对于涉及到价带的俄歇电子，如Si-L23VV 等, 因其能量较低，具有较高的表面敏感性，而常被用于表面分析中。描述入射电子与固体材料之间相互作用的理论很多，自由能理论不仅考虑了电子在固体内部受到的体等离子体激发，同时也考虑了电子出射出样品表面时受到的表面等离子体激发效应。通过模拟计算可以确定表面激发效应对俄歇谱以及全能谱的影响程度。


2.对涉及到价带电子的俄歇成像的初步研究

基于前面对涉及价带俄歇电子激发和发射的理论研究，初步模拟了一些简单构建的扫描俄歇电子成像，通过模拟可以更好地理解实验扫描俄歇谱（SAM）具体成像原理。